在全球半导体竞赛进入白热化的当下,中国科研界刚刚打出了一套令人瞩目的“组合拳 ”。
来自中国科学院 、南京理工大学、南方科技大学等多家顶尖机构的研究团队 ,不约而同地在新年伊始发布了各自在存储器架构、碳化硅(SiC)材料以及高速互连芯片领域的最新突破 。
这些成果并非单纯的“国产替代”,而是展现出了在底层架构和物理极限上的探索野心。从重新定义DRAM的存储密度,到用AI优化功率器件 ,再到突破光电互连的速度瓶颈,中国半导体正在从“跟随者”向“定义者 ”的角色艰难但坚定地转型。
重塑DRAM:向垂直空间要密度
在存储芯片领域,随着制程微缩逼近物理极限 ,如何在有限的硅片上堆叠更多的存储单元成为了全球巨头争夺的焦点 。
中国科学院微电子研究所联合北京超弦存储技术研究院给出了一份极具创新性的答卷——一种新型的“垂直双栅4F² 2T0C”存储单元架构。
这个看似复杂的代号背后,代表着对传统平面晶体管结构的彻底颠覆。研究团队利用独特的原位金属自氧化工艺,成功在极微小的空间内实现了读写晶体管的“自对准集成” 。
通俗来说,这就像是在拥挤的摩天大楼里设计了一套极其精巧的垂直电梯系统 ,不仅节省了宝贵的用地面积(4F²极小单元),还极大地提升了运行效率。
测试数据令人印象深刻:这种新型晶体管在85℃的高温炙烤下依然保持着极高的稳定性,数据保持时间超过300秒 ,写入速度快至50纳秒。
更关键的是,它支持4位多级存储,这意味着单个单元的信息存储量翻了数倍。这一技术路径若能顺利量产 ,将为国产高密度3D DRAM的突围提供强有力的技术支撑 。
碳化硅的进阶:材料与算法的双重革命
在被称为“第三代半导体 ”的碳化硅(SiC)领域,两项突破分别从“材料底层”和“设计工具”两个维度解决了长期存在的痛点。
由中国科学院 、香港大学和武汉大学组成的联合团队,成功攻克了低压SiC器件的“电阻魔咒”。
长期以来 ,工业界在选择SiC衬底时面临着两难:4H-SiC晶体质量好但电阻高,3C-SiC电阻低但难生长 。该团队创造性地开发出一种异质集成方案,将高质量的4H-SiC薄膜“嫁接 ”在低电阻的3C-SiC衬底上。
图 1. 4F² 双栅 2T0C 存储阵列的示意图和 SEM 表征 (图片来源:中国科学院微电子研究所)
这种“博采众长”的策略使得衬底电阻率骤降至0.39 mΩ·cm ,比传统方案低了整整45倍。这对于电动汽车和光伏逆变器中使用的功率器件来说,意味着更低的发热和更高的能效 。
与此同时,南京理工大学微电子学院的团队则另辟蹊径,试图用人工智能解决硬件难题。
他们提出了一种基于神经网络(ANN)的开关损耗预测方法。以往 ,工程师为了计算芯片的能量损耗,需要建立极其复杂的物理模型,耗时耗力 。
现在 ,只需输入几个静态参数,AI算法就能在毫秒级时间内精准预测出芯片在不同工况下的损耗,误差控制在1%左右。这项看似“软”性的技术 ,实则为大规模筛选高质量芯片和优化电源设计提供了一把锋利的“手术刀 ”。
高速互连:为数据中心“提速”
(图片来源:南京理工大学)
在算力即国力的今天,芯片之间数据传输的速度往往决定了整个系统的性能上限 。南方科技大学潘泉教授团队在高速集成电路设计上的突破,正是为了解决这一瓶颈。
他们设计的一款半速率线性发射机 ,通过独特的电路拓扑结构(击穿电压三倍器),在保证芯片不被击穿的前提下,将输出电压摆幅提升了三倍。
这不仅意味着信号传输得更远、更清晰 ,更实现了在112 Gb/s的超高传输速率下,依然保持极低的能耗。
此外,他们针对背板链路开发的接收机前端,利用精妙的串扰消除技术 ,将原本是有害干扰的信号能量转化为有用信号的增强剂 。这种“变废为宝”的设计思路,为下一代超大规模数据中心和AI算力集群的高密度互连奠定了坚实基础。
结语
从微观的晶体管结构到宏观的系统互连,这一系列密集发布的成果清晰地勾勒出中国半导体产业的进阶路径:不再仅仅满足于制造 ,而是开始深入到物理底层和架构源头寻找创新的可能性。
虽然从实验室到生产线的道路依然漫长且充满荆棘,但2026年的这个开局,无疑为中国半导体产业注入了一剂强心针 。
这些突破正在告诉世界 ,在摩尔定律放缓的后半场,创新的维度远比想象中宽广。
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希望本篇文章《中国半导体研究在存储器和集成电路设计领域取得多项突破》能对你有所帮助!
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